METROIND4.0&IoT, evento organizzato da IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) ha l’obiettivo di esaminare i contributi della metrologia per lo sviluppo dell’Industria 4.0 e dell’IoT e di analizzare nuove opportunità di sviluppo, metodi e strumenti di misurazione.
La conferenza si terrà dal 29 al 31 maggio a Firenze, presso l’Università degli Studi di Firenze – Centro Didattico Morgagni.
Massimiliano Proietti, Researcher and Data Scientist di Idea-Re, parteciperà a METROIND4.0&IoT con il contributo “XAI for industrial coating processes in the era of Industry 5.0”, in cui sarà presentato un algoritmo di ottimizzazione dei processi di coating basato su eXplainable Artificial Intelligence (XAI) e reti di Bayes.